Факторизация пространства конденсаторов и сходимость к ядру

Abstract

Рассматривается факторизация пространства конденсаторов в регулярном, связном, локально связном топологическом пространстве по отношению эквивалентности, порожденной операцией взаимного заполнения пластин конденсатора. В терминах верхнего топологического предела и операции заполнения определяется сходимость к ядру фильтрующегося семейства конденсаторов. Исследуется связь между сходимостью к ядру и сходимостью в фактор-топологии. Описаны фильтрующиеся семейства конденсаторов, для которых эти сходимости эквивалентны.