Электронный архив НГУ

О генерации диагностических тестов на основе таблиц трассировок

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Мосин, Сергей Геннадьевич ru_RU
dc.contributor.author Кряжев, Алексей Андреевич ru_RU
dc.contributor.author A. A. Kryazhev en_EN
dc.contributor.author S. G. Mosin en_EN
dc.creator Владимирский государственный университет им. А. Г. и Н. Г. Столетовых ru_RU
dc.creator A.G. and N.G. Stoletovs Vladimir State University en_EN
dc.date.accessioned 2013-02-27T15:35:37Z
dc.date.available 2013-02-27T15:35:37Z
dc.date.issued 2013-02-27
dc.identifier.issn 1818-7900
dc.identifier.uri http://www.nsu.ru/xmlui/handle/nsu/255
dc.description.abstract Предложен алгоритм генерации диагностических тестов, являющийся модификацией D-алгоритма. Исследованы существующие методы генерации диагностических тестов для цифровых электронных схем, выявлены недостатки. Предложен способ упрощения и распараллеливания алгоритма. Проведены экспериментальные исследования. ru_RU
dc.description.abstract The algorithm of generating diagnostics tests as modification of D-algorithm has been proposed. The existent methods of diagnostics tests generation for digital electronic circuits have been investigated and disadvantages identified. The way for algorithm simplification and parallelization has been proposed. The experimental study has been done. en_EN
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher Новосибирский государственный университет ru_RU
dc.subject диагностика неисправностей ru_RU
dc.subject генерация тестов ru_RU
dc.subject D-алгоритм ru_RU
dc.subject таблицы трассировки ru_RU
dc.subject производительность алгоритма ru_RU
dc.subject algorithm performance en_EN
dc.subject tracing tables en_EN
dc.subject D-algorithm en_EN
dc.subject test generation en_EN
dc.subject fault diagnosis en_EN
dc.title О генерации диагностических тестов на основе таблиц трассировок ru_RU
dc.title.alternative A generation of diagnostics tests based on the tracing tables en
dc.type Article ru_RU
dc.description.reference 1. Ланцов В. Н., Мосин С. Г. Современные подходы к проектированию и тестированию интегральных микросхем: Моногр. Владимир, 2010. 285 с. 2. Chang H. Y., Manning E., Metze G. Fault Diagnosis of Digital Systems. Wiley-Interscience, 1970. 232 p. 3. Roth J. P. Diagnosis of Automata Failures: A Calculus and a Method // IBM Journal of Research and Development. 1966. No. 10. P. 278–291. 4. Hansen M. C., Yalcin H., Hayes J. P. Unveiling the ISCAS-85 Benchmarks: A Case Study in Reverse Engineering // IEEE Design and Test. 1999. No. 16. P. 72–80. ru_RU
dc.subject.udc 681.5
dc.relation.ispartofvolume 10
dc.relation.ispartofnumber 4
dc.relation.ispartofpages 57-62


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию