• Студентам
    • Сотрудникам
    • Преподавателям
+27.5°С
  • Абитуриенту
    • Поступление-2022
    • Личный кабинет абитуриента
    • Бакалавриат и специалитет
    • Стипендия NSU+
    • Стипендия NSU+. Магистратура
    • Магистратура
    • Аспирантура
    • Ординатура
    • Иностранным абитуриентам
    • Калькулятор ЕГЭ
    • Подготовка к ЕГЭ
    • Дни открытых дверей
    • Олимпиады НГУ
    • Подготовительные курсы
    • Общежития
    • Карты корпусов
  • Студентам
    • Расписание
    • Электронная почта
    • Личный кабинет студента
    • Научная библиотека НГУ
    • Центр развития карьеры
    • Стипендии
    • Виртуальная среда НГУ
    • Интернет-провайдер NSUNet
    • Карты корпусов
    • Беспроводные сети Wi-Fi НГУ
    • Онлайн-оплата услуг НГУ
    • Профилактика коронавирусной инфекции (COVID-19) в НГУ
    • Медицинский центр НГУ
  • Выпускникам
    • Истории успеха
    • События
    • Ассоциация выпускников "Союз НГУ"
  • Сотрудникам
    • Кадровые процедуры и документы
    • Вакансии
    • Кадровый резерв
    • Социальная инфраструктура и общие вопросы
    • Приглашение иностранных специалистов
    • Внутренний портал сотрудникам
    • Исследовательский портал Pure
    • Личный кабинет преподавателя
    • Беспроводные сети Wi-Fi НГУ
    • Онлайн-оплата услуг НГУ
    • Медицинский центр НГУ
  • Партнеры
  • Студентам
  • Сотрудникам
  • Преподавателям
  • Образование
    • Поступление в НГУ
    • Программы
    • Институты и факультеты
    • Онлайн-образование
    • Экзаменационный центр ParisTech
    • Эразмус+
    • Дополнительное образование
    • Языковые центры
    • Русский язык для всех
    • Инклюзивное образование
    • Расписание
    • СУНЦ НГУ (Физико-математическая школа)
    • Летняя школа СУНЦ (ФМШ)
    • Высший колледж информатики НГУ
    • Летняя школа ВКИ
    • Электронная библиотека
    • Виртуальная среда НГУ
    • Китайско-российский институт
  • Наука
    • Аспирантура
    • Направления научных исследований
    • Конференции
    • Стратегические академические единицы
    • МНСК
    • МЭСК
    • Диссертационные советы
    • Федеральные целевые программы
    • Журналы НГУ
    • НОЦ "Газпромнефть-НГУ"
    • Математический центр
    • Климатический центр
    • Программа молодых исследователей
  • Инновации
    • Технологические предложения
    • Центр трансфера технологий
    • Партнеры
  • Атмосфера
    • Ежегодные события
    • Кампус
    • Спорт
    • Что посмотреть в Новосибирске
    • Тотальный диктант
    • Студенческие клубы
    • База отдыха
  • Медиа
    • Новости
    • События
    • Видеоканал NSU.LIFE
    • Журнал "Уж"
    • Эпидемиологическая ситуация в кампусе
    • Новости Минобрнауки
  • Университет
    • Топ-20 фактов
    • Приоритет 2030
    • Рейтинги
    • Руководство
    • Органы управления
    • Реквизиты НГУ
    • Фирменный стиль
    • Сведения об образовательной организации
    • Академгородок
    • Как добраться
    • Карты корпусов
    • Строительство кампуса мирового уровня
    • Международная деятельность
    • Медицинский центр НГУ
    • Почетные звания НГУ
    • Музей истории НГУ
    • Эндаумент
    • Закупки
    • Профсоюз
    • История
    • 5-100
  • Контакты
  • Абитуриенту
    • Поступление-2022
    • Личный кабинет абитуриента
    • Бакалавриат и специалитет
    • Стипендия NSU+
    • Стипендия NSU+. Магистратура
    • Магистратура
    • Аспирантура
    • Ординатура
    • Иностранным абитуриентам
    • Калькулятор ЕГЭ
    • Подготовка к ЕГЭ
    • Дни открытых дверей
    • Олимпиады НГУ
    • Подготовительные курсы
    • Общежития
    • Карты корпусов
  • Студентам
    • Расписание
    • Электронная почта
    • Личный кабинет студента
    • Научная библиотека НГУ
    • Центр развития карьеры
    • Стипендии
    • Виртуальная среда НГУ
    • Интернет-провайдер NSUNet
    • Карты корпусов
    • Беспроводные сети Wi-Fi НГУ
    • Онлайн-оплата услуг НГУ
    • Профилактика коронавирусной инфекции (COVID-19) в НГУ
    • Медицинский центр НГУ
  • Выпускникам
    • Истории успеха
    • События
    • Ассоциация выпускников "Союз НГУ"
  • Сотрудникам
    • Кадровые процедуры и документы
    • Вакансии
    • Кадровый резерв
    • Социальная инфраструктура и общие вопросы
    • Приглашение иностранных специалистов
    • Внутренний портал сотрудникам
    • Исследовательский портал Pure
    • Личный кабинет преподавателя
    • Беспроводные сети Wi-Fi НГУ
    • Онлайн-оплата услуг НГУ
    • Медицинский центр НГУ
  • Партнеры
  1. НГУ
  2. Наука
  3. Направления научных исследований
  4. Физика
  5. Оборудование

Оборудование

  • Аспирантура
  • Направления научных исследований
    • Физика
    • Химия и Материаловедение
    • Биология и медицина
    • Науки о Космосе
    • Математические науки
    • Науки о Земле
    • Информационные технологии
    • Общественные науки
    • Гуманитарные науки
  • Конференции
  • Стратегические академические единицы
  • МНСК
  • МЭСК
  • Диссертационные советы
  • Федеральные целевые программы
    • Проект № 14.575.21.0128
    • Проект № 14.575.21.0154
    • Проект № 14.575.21.0171
  • Журналы НГУ
  • НОЦ "Газпромнефть-НГУ"
  • Математический центр
  • Климатический центр
  • Программа молодых исследователей
Лаборатория прикладной электродинамики
Сотрудники
Публикации
Аналитический и технологический исследовательский центр
О центре
Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники
Сотрудники
Биомедицинская физика
Лаборатория магнитного резонанса в химии, биологии и медицине
Сотрудники
Лаборатория оптики и динамики биологических систем
Лаборатория бор-нейтронозахватной терапии
Лаборатория ядерной и инновационной медицины физического факультета
Междисциплинарный центр физики элементарных частиц и астрофизики
Междисциплинарный центр физики элементарных частиц и астрофизики. О центре
Сотрудники
Лаборатория изучения свойств b- и c-кварков в e+e- аннигиляции
Сотрудники
Публикации
Лаборатория космологии и физики элементарных частиц
Сотрудники
Лаборатория новых методов регистрации ионизирующих излучений
Сотрудники
Публикации
Лаборатория нуклон-антинуклонных взаимодействий
Сотрудники
Публикации
Лаборатория поиска взаимодействий за рамками Стандартной Модели в экспериментах с мюонами в Фермилаб
Сотрудники
Лаборатория поиска процессов с нарушением закона сохранения лептонного числа при помощи высокоинтенсивных пучков мюонов
Сотрудники
Публикации
Лаборатория по изучению с-тау физики
Сотрудники
Публикации
Лаборатория по изучению физики В- и D-мезонов
Сотрудники
Публикации
Лаборатория по исследованию сильных взаимодействий в процессах е+e- аннигиляции и распадах тау-лептонов
Сотрудники
Публикации
Лаборатория по исследованию физических процессов при столкновениях адронов сверх-высоких энергий
Сотрудники
Публикации
Лаборатория по разработке нового поколения коллайдеров высоких энергий
Сотрудники
Лаборатория физики адронных взаимодействий
Сотрудники
Лаборатория физики тяжелых кварков в адронных взаимодействиях
Сотрудники
Публикации
Физика конденсированного состояния
Лаборатория синтеза функциональных материалов
Сотрудники
Лаборатория молекулярной кинетики
Сотрудники
Физика плазмы
Лаборатория низкотемпературной плазмы
Сотрудники
Лаборатория перспективных исследований по миллиметровому и терагерцовому излучению
Сотрудники
Физика сплошных сред
Лаборатория нелинейных волновых процессов
Сотрудники
Фотоника и квантовая оптика
Лаборатория акустооптики и электрооптики
Сотрудники
Лаборатория волоконных лазеров
Сотрудники
Лаборатория нелинейной оптики волноводных систем
Сотрудники
Публикации
Лаборатория молекулярной фотоники
Сотрудники
Публикации
Лаборатория численного и экспериментального моделирования новых устройств фотоники
Сотрудники
Международный центр фотоники Астон-НГУ
Сотрудники
Отдел лазерной физики и инновационных технологий
Сотрудники
Публикации
Лаборатория нелинейной фотоники
Сотрудники
Междисциплинарный квантовый центр
Междисциплинарный квантовый центр. О центре
Публикации
Лаборатория квантовых оптических технологий
Сотрудники
Лаборатория теоретических основ атомных часов и магнитометров
Сотрудники
Публикации
Энергетика
Лаборатория моделирования энергетических процессов
Сотрудники
Лаборатория физико-технических основ энергетики
Сотрудники
Публикации
Центры коллективного пользования
Высокие технологии и аналитика наносистем
Ускорительная масс-спектрометрия НГУ-ННЦ
Отдел прикладной физики
Атомно-силовой микроскоп "Dimension Icon" (BRUKER) с дополнительными режимами

Производитель: BRUKER, Германия

Назначение: визуализации рельефа поверхности образцов на нано- и субнанометровом уровне, исследований образцов в жидких средах, а также проведение анализа механических, электрических, пьезоэлектрических измерений и зарядовой литографии.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):
Максимальный размер образца — диаметр до 210 мм высота до 50 мм.
Максимальный размер поля сканирования XY до 90 мкм, с перепадами по высоте на поверхности Z до 10 мкм.
Визуализация микро- и нанорельефа поверхности образца с шумом не более 0.035 нм.
Разрешение вертикальное Z — <0.5 нм.
Разрешение латеральное XY — определяется остротой зонда (достижимо <1 нм).
Проведение анализа механических упругих характеристик с помощью методики картирования модуля Юнга PeakForce QNM (диапазон анализируемых значений от 1 МПа до 60 ГПа).
Внешнее подаваемое напряжение — от -10 В до 10 В. (В режиме KPFM-HV от -220 В до 220 В.)
Диапазон токов в режиме PeakForce TUNA — от -550 нА до 550 нА, минимальный шаг порядка 70 фА.
Наличие режима ёмкостной микроскопии (SCM), магнито-силовой микросокпии (MFM), однопроходной микроскопии поверхностного электрического потенциала (single-pass KPFM), контактного резонанса (Contact Resonance).

Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2200FS

Производитель: JEOL Ltd., Япония

Год выпуска: 2008

Назначение: Микроскоп обеспечивает работу в режимах высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (ВРЭМ), сканирующей просвечивающей микроскопии (СПМ), темного и светлого поля, включая HAADF-режим, получение дифракционных картин, включая дифракцию в сходящихся пучках, проведение спектрального анализа и картирования с помощью EDS и EELS

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): морфология, структура, химический состав.
Разрешающая способность:

  • по точкам – 0,19 нм;
  • по решетке – 0,1 нм;
  • в режиме картирования – 0,2 нм;
  • в режиме HAADF – 0,14 нм.

Растровый электронный микроскоп JCM-5700

Производитель: JEOL Ltd., Япония

Назначение: визуализации микро- и нанорельефа поверхности образца, проведение элементного анализа.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • визуализации микро- и нанорельефа поверхности образца с увеличениями в диапазоне от x8 до x300000 крат;
  • проведение элементного анализа с помощью безазотного рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (диапазон анализируемых элементов от Be до U).
Разрешение — 5 нм.
Ускоряющее напряжение — от 0,5 до 20 кВ.
Диапазон увеличений — от х8 до х300 000.
Максимальный размер образца — диаметр до 150 мм высота до 43 мм.

Электронный микроскоп – литограф Pioneer

Производитель: Raith GmbH, Германия

Год выпуска: 2013

Назначение: проведение электронно-лучевое экспонирование образцов для электронной литографии и получение электронно-микроскопических изображений поверхности.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): размер области экспонирования диаметром около 50 мм, минимальная ширина линий 20 нм.

Установка для молекулярно-лучевой эпитаксии, оснащённая сверхвысоковакуумным сканирующим туннельным микроскопом с изменяемой температурой образца

Производитель: CEO Omicron Nano Technology GmbH, Германия

Год выпуска: 2007

Назначение: осаждение слоёв на поверхность образцов и получение информации об атомной структуре и морфологии поверхности, а также о поверхностных электронных состояниях.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): рост слоёв германия и кремния при разных температурах. Модификация поверхностей перед ростом посредством оксидирования или осаждения тонких слоёв выбранных веществ.

Сканирующий зондовый микроскоп АСМ/СТМ SOLVER NEXT

Производитель: ООО «НТ-МДТ», Россия

Год выпуска: 2008

Назначение: измерение трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): позволяет исследовать топографию поверхности образцов с высоким разрешением около 1 нм

Спектрометр КРС T64000

Производитель: Horiba Jobin Yvon Ivon, Франция

Год выпуска: 2007

Назначение: для регистрации спектров комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): диапазон от 300 до 900 нм, разрешение до 0.5 см-1 , конфокальный микроскоп. Источник света – аргоновый лазер, 488 и 514.5 нанометров. Имеются также твердотельные лазеры с длинами волн 540, 633 и 660 нм.

Дополнительные опции оборудования : прибор оснащен термо-ячейкой Linkam, что позволяет регистрировать спектры при температуре от 80 до 873 K.

Фурье спектрометр дальнего ИК диапазона Bruker Vertex 80v

Производитель: Bruker Corporation, Российская Федерация

Год выпуска: 2012

Назначение: измерение спектральных характеристик образцов.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • диапазон волновых чисел — 8-12000 см-1;
  • динамический диапазон — 30-50 дБ.

Дополнительные опции оборудования : криогенный Si-болометр; приставка для измерения спектров отражения (угол падения 11-80º).

ИК-Фурье спектрометр

Производитель: ООО НПФ "СИМЕКС", РФ

Год выпуска: 2009

Назначение: для регистрации спектров ИК-поглощения.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): спектральный диапазон прибора составляет от 600 до 5500 обратных сантиметров. Разрешение составляет в зависимости от скорости и амплитуды сканирования от 0.5 до 4 см-1.

Дополнительные опции оборудования : cпектрометр оснащён микроскопом «МИКРАН» и приставками для исследования отражения и нарушенного полного внутреннего отражения.

Рентгеновский малоугловой дифрактометр S3-MICRO

Производитель: Австрия, Hecus

Год выпуска: 2007

Назначение: позволяет измерять интенсивность рентгеновского рассеяния от исследуемых твердых и жидких образцов в виде пленок, пластин, покрытий, порошков, растворов, золей и гелей в области от самых малых углов до 8°.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): для измерения дифрактограмм предусмотрено использование координатных (1D и 2D) детекторов. В качестве источника излучения используется рентгеновская трубка с медным анодом (λCuKα = 0.154 нм). Имеется возможность термостабилизации образцов в диапазоне от -30 до 300 оС. 0.01-0.6 Å

Рентгеновский порошковый дифрактометр ARL X'TRA

Производитель: Швейцария, Thermo Fisher Scientific

Год выпуска: 2009

Назначение: определение фазового состава пробы, количественное определение известных фаз в смеси, кристаллографический анализ, анализ тонких плёнок.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): материал анода рентгеновской трубки: Сu, максимальное напряжение 50кВ, максимальный ток 55мА. Внутренний фон ниже 0,1 имп/сек., линейная скорость до 50000 имп/сек.

Комплекс спектрально-эллипсометрический быстродействующий

Производитель: ЗАО "КАТАКОН", РФ

Год выпуска: 2007

Назначение: для регистрации спектров эллипсометрии.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): спектральный диапазон от 300 до 900 нм.

Вакуумный эллипсометр

Производитель: ЗАО "КАТАКОН", РФ

Год выпуска: 2007

Назначение: для регистрации эллипсометрии.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): длина волны лазера 633 нм. Время записи спектра 100 мс.

Лазерный эллипсометр

Производитель: ЗАО "КАТАКОН", РФ

Год выпуска: 2007

Назначение: для регистрации эллипсометрии при сканировании образца.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): длина волны лазера 633 нм. Латеральное разрешение 10 мкм.

Квазиоптический субтерагерцовый ЛОВ-спектрометр

Производитель: ОАО КДП, РФ

Год выпуска: 2009

Назначение: измерение спектральных характеристик образцов

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • диапазон частот: 50 – 1100 ГГц;
  • динамический диапазон: 30-70 дБ;
  • возможность/точность измерения фазы: есть/0.5º.

Дополнительные опции оборудования: приставка для измерения комплексного коэффициента отражения; 2D-сканер с компактным пиродетектором для измерения профиля интенсивности пучка; широкополосный преобразователь поляризации.

Установка измерительная для измерения статических и высокочастотных емкостных характеристик

Производитель: Agilent Technologies, США

Год выпуска: 2007

Назначение: измерительная установка на базе прецизионного RLC измерителя E4980A предназначена для измерения частотных емкостных характеристик, токов утечки приборных наноструктур, исследования процессов зарядки-разрядки, обмена зарядом наночастиц.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): Диапазон частот от 20Гц до 2МГц, погрешность измерения составляет 0,05%, напряжение смещения, встроенный источник напряжения до ± 40В. Измеряемые параметры:

  • Cs, Cp ± 1.0aF to 999.99EF
  • Ls, Lp ± 1.0aH to 999.99EH
  • D ± 0.000001 to 9.999999
  • R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ± 1.000000 aΩ to 999.9999 EΩ Θd ± 0.0001 deg to 180.000 deg a: 1 x 10-18 , E: 1 x 1018

Дополнительные опции оборудования: подключение к зондовой станции «Cascade Microtech» М-150 с микропозиционерами с зондами и триаксиальными кабелями позволяет проводить измерения непосредственно на пластине диаметром до 150 мм. Уровень шума не превышает ±5fА.

Печь MILA- 5000 для высокотемпературного отжига образцов в атмосфере кислорода или азота, или в высоком вакууме

Производитель: ULVAC Technologies Inc., Япония

Год выпуска: 2008

Назначение: отжиг образцов.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): программируемый отжиг образцов до температуры 1000 °С.

Автоматизированный микроскоп-интерферометр МИИ-4М-USB

Производитель: ООО «Реверс», РФ

Год выпуска: 2009

Назначение: для измерения микрорельефа поверхностных микроструктур (в том числе дифракционных) и тонких пленок.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): измерение рельефа в диапазоне 50-4000 нм.

Интерферометр Физо "Intellium Z100"

Производитель: ESDI, США

Год выпуска: 2008

Назначение: для контроля точности изготовления поверхностей оптических деталей и оптических систем.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • воспроизводимость, с.к.з. - 0.3 нм;
  • калиброванная точность - 6 нм;
  • разрешение по глубине - 0.08 нм;
  • пространственное разрешение - 640х480.

Система микроволнового нагрева на базе гиротрона 24 ГГц

Производитель: ИПФ РАН, Россия

Год выпуска: 2008

Назначение: микроволновая обработка материалов в лабораторных условиях.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • частота излучения – 24 ГГц;
  • мощность — регулируемая до 6 кВт;
  • внутренние размеры микроволнового аппликатора: длина – 600 мм, диаметр – 400 мм;
  • диапазон номинального давления в аппликаторе — 10-4 – 1.05 атм;
  • достижимая температура образца — 2000С и выше (в термоизолирующем контейнере)

Дополнительные опции оборудования: регистрация температуры образца: до 4 термопар, окно для установки ИК пирометров; вакуумные клапаны для откачки аппликатора и напуска газов замещения.

Станция резонаторного СВЧ нагрева на базе магнетрона 2,45 ГГц

Производитель: ИЯФ СО РАН, Россия

Год выпуска: 2008

Назначение: микроволновая обработка материалов, характеризующихся малым поглощением СВЧ излучения (tgd ~ 10-4).

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • частота излучения – 2,45 ГГц;
  • мощность — регулируемая до 6 кВт;
  • внутренние размеры микроволнового аппликатора: длина – 600 мм, диаметр – 400 мм;
  • максимальный характерный размер образца — 100 мм;
  • достижимая температура образца — 1500С

Дополнительные опции оборудования: регистрация температуры образца: два ИК пирометра на различные поддиапазоны; Вакуумные клапаны для откачки аппликатора и напуска газов замещения

Экспериментальный имплантер

Производитель: ИЯФ СО РАН, Россия

Год выпуска: 2008

Назначение: модификация поверхности материалов, исследования процессов ионной имплантации и блистеринга.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):

  • рабочие вещества – кислород, водород;
  • энергия ионов 30 – 150 кэВ;
  • ток пучка – до 0,5 – 1,5 мА/см2;
  • диаметр мишени – до 2 см.

Установка плазмохимического травления

Производитель: ОАО НИИТМ, Россия

Год выпуска: 2009

Назначение: плазмохимическое высокоаспектное травление полупроводниковых и диэлектрических пленок на основе кремния (Si, SiO2, SiONx, фоторезист) при формировании микро- и наноструктур.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности):Рабочие вещества – О2, Ar, CF4, SF6. Глубина травления до 1-2 мкм; латеральное разрешение 30 нм.

Установка для нанесения алмазоподобных и нанокомпозитных покрытий

Производитель: ИЯФ СО РАН, Россия

Год выпуска: 2008

Назначение: высокоскоростное нанесение на плоские подложки высококачественных алмазоподобных и нанокомпозитных пленок. Ионно-лучевое травление микроструктур; очистка поверхности.

Основные измеряемые характеристики (диапазон измерения характеристик, показатели точности): покрытий с толщиной 1 – 1000 нм. Материалы пленок – углерод, нихром, Cu, Ni, Al и др.


  • Антиплагиат
  • Интернет-приемная ректора
  • Научная библиотека НГУ
  • Обращения граждан
  • Комплексная безопасность

630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 1

Контакты





© 2022 Новосибирский государственный университет

Чтобы сообщить об ошибке на сайте, выделите текст ошибки и нажмите CTRL+ENTER

Сведения об образовательной организации

Карта сайта

Министерство науки и высшего образования РФ

Мы в соцсетях

Карта НГУ

630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 1

Контакты


© 2022 Новосибирский государственный университет

Сайт разработан Megastar

Сообщение об ошибке на сайте НГУ