|
Аннотация
|
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа
нанокристаллических материалов, излагаются современные
рентгенографические методики исследования наноразмерных и
наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской
дифракции для 1D и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено
для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся по специализации «Физические методы
исследования твердого тела», а также студентов других кафедр и
факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических
материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами
кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.
|
