Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники
Лаборатория ФДНС АТИЦ создана для выполнения научно-исследовательских работ в области материаловедения, физики полупроводников и радиофотоники и ориентирована на изучение систем хранения, обработки, передачи, приёма и кодирования информации с различными характеристиками, соответствующими нуждам области «Больших данных».
Цель деятельности подразделения:
Проведение научно-исследовательских работ в области разработки и совершенствования устройств частотной селекции и генерации сигналов для телекоммуникационных систем, систем связи и систем обработки больших объёмов данных, а также разработка систем долговременного хранения данных и быстрой обработки данных на основе принципов «универсальной памяти» на базе новых материалов.
Заведующий лабораторией: D.Sc.(Tech.), Гейдт Павел Викторович, p.geydt@nsu.ru
Сотрудники:
Азаров Иван Алексеевич, научный сотрудник, специалист по эллипсометрии
Бердиева Сабохат Бахромовна, младший научный сотрудник, специалист по пробоподготовке к просвечивающей электронной микроскопии
Богословцева Алена Леонидовна, младший научный сотрудник, специалист по магнетронному росту плёнок и нанодиагностике поверхности
Витошкин Игорь Евгеньевич, лаборант, специалист по ионному травлению и пробоподготовке
Володин Владимир Алексеевич, ведущий научный сотрудник, д.ф.-м.н., эксперт по КРС и оптическим методам спектрального анализа, кремний-германиевым мемристорам
Гейдт Павел Викторович, заведующий лабораторией, D.Sc.(Tech.), к.ф.-м.н., эксперт по продвинутым методикам атомно-силовой микроскопии
Ищенко Аркадий Владимирович, ведущий инженер, к.х.н., эксперт по ПЭМ измерениям, технике и эксперименту
Капишников Александр Владимирович, научный сотрудник, специалист по рентгенофазному анализу и росту майенита для элементов памяти
Кузнецов Сергей Александрович, старший научный сотрудник, эксперт в ТГц-методах характеризации материалов для устройств передачи информации 5G/6G
Лазорский Павел Александрович, инженер 2 категории, специалист в росте оптических элементов/фильтров/преобразователей, 3D-моделировании и 3D-печати
Максимовский Евгений Анатольевич, ведущий инженер, к.х.н., эксперт в растровой электронной микроскопии (РЭМ, edx, EBSD, комплексная пробоподготовка)
Марин Денис Викторович, ведущий инженер, к.ф.-м.н., эксперт по эллипсометрии
Милёхин Илья Александрович, научный сотрудник, к.ф.-м.н., эксперт по продвинутым методикам в области комбинационного рассеяния света (μRaman, TERS, SERS)
Миронова Мария Ивановна, младший научный сотрудник, ведущий специалист по ПЭМ измерениям и пробоподготовке
Митрофанов Андрей Сергеевич, младший научный сотрудник, специалист в области твердотельной электроники и техники корпусирования прототипов
Николаев Иван Владимирович, старший научный сотрудник, к.ф.-м.н., эксперт в области субнанометрового ионно-кластерного выглаживания оптических материалов
Николаев Назар Александрович, старший научный сотрудник, к.т.н., специалист по ТГц-характеризации материалов
Рыбак Алина Анатольевна, научный сотрудник, к.ф.-м.н., специалист по моделированию ТГц структур и оптических метаматериалов
Сульдженко Елена Александровна, лаборант, менеджер лаборатории
Чепкасов Сергей Юрьевич, младший научный сотрудник, специалист по магнетронным методам роста металлических и диэлектрических плёнок
Чэн Юйчжу (Надя), лаборант, специалист по спектроскопии комбинированного рассеяния света и ИК- спектроскопии
Шаяпов Владимир Равильевич, научный сотрудник, к.ф.-м.н., эксперт по магнетронному росту и газофазным методам синтеза и свойствам тонких плёнок
Шевченко Олеся Николаевна, научный сотрудник, специалист по экспериментальной ИК-диагностике материалов
Шкляев Александр Андреевич, ведущий научный сотрудник, д.ф.-м.н., эксперт в области эпитаксиального роста наноструктур и сканирующей туннельной микроскопии
Юшков Иван Дмитриевич, младший научный сотрудник, специалист по электрофизическим методам анализа мемристоров (ВАХ, C-V, циклирование, криорежимы)
