Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники — Новосибирский государственный университет

Лаборатория ФДНС АТИЦ создана для выполнения научно-исследовательских работ в области материаловедения, физики полупроводников и радиофотоники и ориентирована на изучение систем хранения, обработки, передачи, приёма и кодирования информации с различными характеристиками, соответствующими нуждам области «Больших данных».

Цель деятельности подразделения:
Проведение научно-исследовательских работ в области разработки и совершенствования устройств частотной селекции и генерации сигналов для телекоммуникационных систем, систем связи и систем обработки больших объёмов данных, а также разработка систем долговременного хранения данных и быстрой обработки данных на основе принципов «универсальной памяти» на базе новых материалов.

Профиль лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники на исследовательском портале НГУ Pure

Партнеры лаборатории
АО «ОНИИП» (г. Омск)
Омский научный центр СО РАН
АО «НЗПП с ОКБ» (г. Новосибирск)
Физико-технический институт имени Иоффе
LUT-University (Финляндия)
Université de Lorraine (Франция)
Public University of Navarre (Испания)
Белорусский государственный университет (Белоруссия)
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова
Институт катализа им. Г.К. Борескова
Институт ядерной физикиимени Г. И. Будкера СО РАН
Новосибирский институт органической химии им. Н.Н. Ворожцова
Институт автоматики и электрометрии
Институт неорганической химии им. А.В. Николаева
Новосибирский научно-исследовательский институт травматологии и ортопедии им. Я.Л.Цивьяна
Федеральное бюджетное учреждение науки государственный научный центр вирусологии и биотехнологии «Вектор»

Заведующий лабораторией: D.Sc.(Tech.), Гейдт Павел Викторович, p.geydt@nsu.ru

Сотрудники:

Азаров Иван Алексеевич, младший научный сотрудник, специалист по эллипсометрии
Болтаев Артем Иванович, младший научный сотрудник, специалист по моделированию упругих свойств
Володин Владимир Алексеевич, ведущий научный сотрудник, эксперт по КРС и оптическим методам спектрального анализа
Воробьева Анастасия Викторовна, лаборант
Дылыков Бадма Цыбенжапович, лаборант, специалист по АСМ/РЭМ
Золкин Александр Степанович, старший научный сотрудник, эксперт в методах вакуумного роста плёнок
Капишников Александр Владимирович, младший научный сотрудник, специалист по рентгенофазному методу анализа
Кенжин Роман Мугарамович, ведущий инженер, специалист по росту электридов
Кривякин Григорий Константинович, младший научный сотрудник, эксперт в методах просвечивающей электронной микроскопии
Кузнецов Александр Николаевич, младший научный сотрудник, специалист по электрофизической характеризации и корпусированию устройств
Кузнецов Сергей Александрович, старший научный сотрудник, эксперт в ТГц-методах характеризации и устройствах передачи информации
Лазорский Павел Александрович, инженер 2 категории, специалист в росте оптических элементов/фильтров/преобразователей
Лапега Алина Витальевна, младший научный сотрудник, специалист в атомно-силовой микроскопии
Миронова Мария Ивановна, инженер
Митрофанов Андрей Сергеевич, младший научный сотрудник, специалист в области твердотельной электроники
Николаев Иван Владимирович, младший научный сотрудник, специалист в области ионно-кластерного выглаживания материалов
Николаев Назар Александрович, старший научный сотрудник, специалист по ТГц-характеризации материалов
Рыбак Алина Анатольевна, младший научный сотрудник, специалист по компьютерному моделированию оптических элементов передачи сигналов
Чепкасов Сергей Юрьевич, младший научный сотрудник, специалист по магнетронным методам роста металлических плёнок
Чириков Никита Александрович, инженер 2 категории, специалист по магнетронным методам роста диэлектрических плёнок
Шевченко Олеся Николаевна, младший научный сотрудник, специалист по экспериментальной ИК-диагностике материалов
Шкляев Александр Андреевич, ведущий научный сотрудник, эксперт в области эпитаксиального роста наноструктур и туннельной микроскопии

Title